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插頭插座檢測設(shè)備
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JX-LTI1 低溫沖擊試驗裝置
●產(chǎn)品概述
符合GB2099.1-2008第24.4條及30.4條要求（圖27及圖42）、IEC60884-1、VDE0620等標(biāo)準(zhǔn)要求；單組式適用于對插頭、插座、開關(guān)、等進行低溫沖擊試驗。
●技術(shù)參數(shù)
本低溫沖擊設(shè)備應(yīng)與低溫箱配套使用，設(shè)備應(yīng)放在約40mm厚的海綿橡皮墊上，試驗前和試驗期間均應(yīng)置于合適的低溫箱內(nèi)
跌落沖擊高度：10~250mm可調(diào)
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低溫沖擊試樣類型、落錘質(zhì)量及跌落高度對照表
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低溫沖擊試樣 |
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格 |
落錘質(zhì)量g |
跌落沖擊高度mm |
備注 |
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插座盒及類似電器外殼 |
GB2099.1-2008第24.4條款，圖27 |
1000±2 |
100 |
標(biāo)配 |
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帶絕緣護套的插銷 |
GB2099.1-2008第30.4條款，圖42 |
100±1 |
100 |
標(biāo)配 |
- 上一款產(chǎn)品：JX-IN1 插頭絕緣護套耐磨損試驗儀
- 下一款產(chǎn)品：JX-PH2 高能量擺錘沖擊試驗裝置
